搜索

中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所《测控技术》杂志社版权所有
地址:北京市亦庄经济技术开发区经海二路航空工业科技商务园9号楼       邮编:101111 
编辑部:010-65667497;  广告部:010-65667357;
  发行部:010-65667497

扫码关注微信公众号

本网站为《测控技术》指定官方网站

Coypright◎2012-2018 北京长城航空测控技术研究所      京ICP备09097201号-2

按应用领域分类

按应用领域分类

按应用领域分类

测控技术

华北工控基于Intel Coffe lake-S平台的AI产品BIS-6665I-F10
三菱电机3D仿真软件「MELSOFT Gemini」新品上市
Moxa推出全新 V2403C 系列的强固型工业计算机
适用于工业以太网的SIKO新型绝对值旋转编码器:绝对、紧凑、面向未来
当畅想成为现实,从无人驾驶看背后的中枢大脑
西门子发布全新SIMOTICS 1LE0 IE4高能效电机,助力制造业低碳转型
“唤新向上,奔赴未来”!——电科思仪“天衡星”系列高端测量仪器最新发布
埃赛力达科技推出全新LINOS F-Theta-Ronar镜头

知识工程

微视频

测控技术

IoT.方案 | 整合边缘计算、机器视觉与设备运维诊断方案,助力产线智能化
华北工控着力打造网络平台安全管理“后盾”
基于 PC 的控制技术在电动汽车制造领域中的重要应用
航空航天工程师必看,通用自动化测试系统搭建宝典
5G,WiFi 6 6E,FMCW雷达研发和生产测试方案
大气环境在线监测,华北工控可提供低功耗高性能计算机硬件支持!
测的离谱!SiC MOSFET驱动电压测试结果离谱的六大原因!
IoT.案例 | “双碳”驱动,研华携手清能华控助推电力企业驶入数字化转型快车道

知识工程

微视频

IoT.方案 | 整合边缘计算、机器视觉与设备运维诊断方案,助力产线智能化
华北工控着力打造网络平台安全管理“后盾”
基于 PC 的控制技术在电动汽车制造领域中的重要应用
航空航天工程师必看,通用自动化测试系统搭建宝典
5G,WiFi 6 6E,FMCW雷达研发和生产测试方案
大气环境在线监测,华北工控可提供低功耗高性能计算机硬件支持!
测的离谱!SiC MOSFET驱动电压测试结果离谱的六大原因!
IoT.案例 | “双碳”驱动,研华携手清能华控助推电力企业驶入数字化转型快车道

测控技术

知识工程

微视频

中国航空工业集团公司   中航高科智能测控有限公司  北京瑞赛长城航空测控技术有限公司   中国航空工业技术装备工程协会  中国航空学会

中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所 《测控技术》杂志社版权所有
地址:北京市亦庄经济技术开发区经海二路航空工业科技商务园9号楼 邮编:101111 
编辑部:010-65667497;
广告部:010-65667357;

发行部:010-65667497;
网站管理部:010-65665345

半导体测试位点太多?虹科多位点数字测试系统帮你忙!

浏览量
【摘要】:
半导体数字测试,特别是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件转换而成的数字测试程序,往往需要扩展到多个DUT测试位点。本文讨论了使用GtDio6x产品线和ATEasy®进行多位点测试的系统硬件和软件需求,以提供一个成本有效的解决方案。

引言

 

 

半导体数字测试,特别是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件转换而成的数字测试程序,往往需要扩展到多个DUT测试位点。本文讨论了使用GtDio6x产品线和ATEasy®进行多位点测试的系统硬件和软件需求,以提供一个成本有效的解决方案。

 

数字设备设计注意事项

 

 

在设计多位点测试程序时,设计者可能无法完全明确成本和性能之间的取舍。在评估GX5296或GX5964系列动态数字仪器的性能和能力后,可以合理地推断单个GtDio6x板卡的大量通道应该能够支持多位点数字测试解决方案。虽然这种解决方案是可能的,但它并不能构建一个性能能满足每个DUT测试位点都使用数字资源或板卡的测试系统。

 

 

基于逐个位点的多数字域的解决方案

 

 

Marvin Test Solutions公司建议设计基于每个位点的多数字域的多位点测试系统,以便每个DUT测试位点使用自己的数字资源,如图1所示。该解决方案提供了最快的多位点测试性能,因为每个DUT测试位点可以独立运行。

 

图1 -多域解决方案框图

使用这种配置方法,每个DUT测试位点都可以使用所有的数字资源。通过读取实时比较(RTC)错误状态寄存器,可以立即识别每个DUT测试位点的测试状态。此外,系统可以设计成每个DUT测试位点使用相同的数字测试文件和测试程序。通过增加额外的数字领域,DUT测试位点可以很容易地扩展。使用ATEasy®也可以轻松创建一个多线程测试程序来执行此测试。

 表1 -多域解决方案的相对优点

多数字域解决方案

优点

缺点

测试程序通用

初始成本高

易于编程

PXI插槽需求多

快速的测试速度

 

 

基于单一数字域的解决方案

 

 

如图2所示,使用单个数字域设计的多位点数字测试系统有几个缺点。首先,每个测试位点不能再使用相同的数字文件。单一数字域的多位点数字测试解决方案需要一个独立的应用程序从原始数字文件创建额外的测试位点。这个额外的应用程序需要将原始通道和矢量数据复制到所有新的DUT测试位点。

图2 -单一域解决方案框图

尽管仅读取和评估记录存储器就可以确定所有DUT位点的状态,但由于大多数数字测试的大小都非常大,这种方法并不实用,因为它会消耗太多的测试时间。
RTC错误地址内存包含高达1K的失败向量地址,可以读取每个地址的记录内存来确定失败的DUT位点。由于每个测试入口都表示一个失败的位置,所以不会浪费时间从记录内存中读取大量部分来确定测试失败。除非失效次数小于1k或以上所述所有DUT均已失效,否则无法确定所有DUT的状态。在这种情况下,测试程序必须禁用失败的测试位点,并重新运行数字测试,直到所有DUT测试位点的状态已知。GtDio6x系列数字仪器提供了一种在检测到故障时中止测试序列的方法;当出现故障时,该特性可以节省测试时间。
表2 -单域解决方案的相对优点

单一数字域解决方案

优点

缺点

初始成本低

需要添加新的数字文件

仅需单一PXI插槽

针对发现失效DUT需要复杂的测试程序

 

当DUT失效,测试时间长

 

方案比较

 

 

以下是两种方案的比较:

单一域解决方案

多域解决方案

需要编程创建数字测试文件

自动生成数字测试文件

PXI槽位和单板数量少

更多的PXI槽位和数字板卡

硬件成本低

硬件成本高

部署速度慢

部署速度快

需要复杂的编程来找到故障的DUT

更快速的DUT故障诊断方法

测试成品率更低

测试成品率更高

 

总结

 

除非半导体测试系统的空间(PXI插槽)十分宝贵,否则多位点测试系统在设计时还是应该为每个DUT测试位点提供一个数字域。虽然硬件的前期成本会很高,但这会在后期测试过程中带来巨大的回报。这保证了尽可能快的测试时间并简化了测试编程,在多位点数字测试系统的设计中,这些功能是至关重要的。

视频展示

测控科技

相关文件

暂时没有内容信息显示
请先在网站后台添加数据记录。