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半导体测试位点太多？虹科多位点数字测试系统帮你忙！
引言
半导体数字测试，特别是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件转换而成的数字测试程序，往往需要扩展到多个DUT测试位点。本文讨论了使用GtDio6x产品线和ATEasy®进行多位点测试的系统硬件和软件需求，以提供一个成本有效的解决方案。
数字设备设计注意事项
基于逐个位点的多数字域的解决方案
图1 -多域解决方案框图
表1 -多域解决方案的相对优点
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优点 |
缺点 |
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测试程序通用 |
初始成本高 |
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易于编程 |
PXI插槽需求多 |
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快速的测试速度 |
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基于单一数字域的解决方案
图2 -单一域解决方案框图
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单一数字域解决方案 |
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优点 |
缺点 |
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初始成本低 |
需要添加新的数字文件 |
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仅需单一PXI插槽 |
针对发现失效DUT需要复杂的测试程序 |
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当DUT失效，测试时间长 |
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方案比较
以下是两种方案的比较：
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单一域解决方案 |
多域解决方案 |
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需要编程创建数字测试文件 |
自动生成数字测试文件 |
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PXI槽位和单板数量少 |
更多的PXI槽位和数字板卡 |
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硬件成本低 |
硬件成本高 |
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部署速度慢 |
部署速度快 |
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需要复杂的编程来找到故障的DUT |
更快速的DUT故障诊断方法 |
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测试成品率更低 |
测试成品率更高 |
总结
除非半导体测试系统的空间(PXI插槽)十分宝贵，否则多位点测试系统在设计时还是应该为每个DUT测试位点提供一个数字域。虽然硬件的前期成本会很高，但这会在后期测试过程中带来巨大的回报。这保证了尽可能快的测试时间并简化了测试编程，在多位点数字测试系统的设计中，这些功能是至关重要的。